I Foro Tributario INSPAT

El Tribunal Administrativo Tributario (TAT), participó en el I Foro Tributario, “Nuevas Tendencias en la Gestión Tributaria”,  evento organizado por el Instituto Panameño de Tributaristas (INSPAT).

Los ejes temáticos del  encuentro, se centraron en tópicos de actualidad tributaria y contó con la presencia de distinguidos expositores.

Correspondió al magistrado Allan Poher Barrios Rosario, representar al TAT con la ponencia “La prueba pericial desde la perspectiva del procedimiento tributario”. Durante su intervención, el magistrado Barrios explicó conceptos relacionados con la prueba pericial y el  marco legal de la misma. De igual forma dio a conocer los principios generales del peritaje y las facultades del juez o magistrado del TAT durante el desarrollo de dichas pruebas, entre otros tópicos.